Goodness of fit tests with misclassified data based on φ-divergences

  1. Pardo, L.
  2. Zografos, K.
Revista:
Biometrical Journal

ISSN: 0323-3847

Año de publicación: 2000

Volumen: 42

Número: 2

Páginas: 223-237

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/(SICI)1521-4036(200005)42:2<223::AID-BIMJ223>3.0.CO;2-T GOOGLE SCHOLAR
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