Reliability-aware design for nanometer-scale devices

  1. Atienza, D.
  2. De Micheli, G.
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  4. Ayala, J.L.
  5. Del Valle, P.G.
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  7. Narayanan, V.
Actas:
Proceedings of the Asia and South Pacific Design Automation Conference, ASP-DAC

ISBN: 9781424419227

Año de publicación: 2008

Páginas: 549-554

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ASPDAC.2008.4484011 GOOGLE SCHOLAR
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