Influence of randomness during the interpretation of results from single-event experiments on SRAMs

  1. Franco, F.J.
  2. Clemente, J.A.
  3. Mecha, H.
  4. Velazco, R.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1558-2574,  1530-4388

Any de publicació: 2019

Volum: 19

Número: 1

Pàgines: 104-111

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TDMR.2018.2886358 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus