Sensitivity Characterization of a COTS 90-nm SRAM at Ultralow Bias Voltage
- Clemente, J.A.
- Hubert, G.
- Franco, F.J.
- Villa, F.
- Baylac, M.
- Mecha, H.
- Puchner, H.
- Velazco, R.
ISSN: 0018-9499
Any de publicació: 2017
Volum: 64
Número: 8
Pàgines: 2188-2195
Tipus: Article