Sensitivity Characterization of a COTS 90-nm SRAM at Ultralow Bias Voltage

  1. Clemente, J.A.
  2. Hubert, G.
  3. Franco, F.J.
  4. Villa, F.
  5. Baylac, M.
  6. Mecha, H.
  7. Puchner, H.
  8. Velazco, R.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Ano de publicación: 2017

Volume: 64

Número: 8

Páxinas: 2188-2195

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TNS.2017.2682984 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus