Sensitivity Characterization of a COTS 90-nm SRAM at Ultralow Bias Voltage
- Clemente, J.A.
- Hubert, G.
- Franco, F.J.
- Villa, F.
- Baylac, M.
- Mecha, H.
- Puchner, H.
- Velazco, R.
ISSN: 0018-9499
Argitalpen urtea: 2017
Alea: 64
Zenbakia: 8
Orrialdeak: 2188-2195
Mota: Artikulua