Statistical Anomalies of Bitflips in SRAMs to Discriminate SBUs from MCUs

  1. Clemente, J.A.
  2. Franco, F.J.
  3. Villa, F.
  4. Baylac, M.
  5. Rey, S.
  6. Mecha, H.
  7. Agapito, J.A.
  8. Puchner, H.
  9. Hubert, G.
  10. Velazco, R.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Any de publicació: 2016

Volum: 63

Número: 4

Pàgines: 2087-2094

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TNS.2016.2551263 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus