Statistical Anomalies of Bitflips in SRAMs to Discriminate SBUs from MCUs

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Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Año de publicación: 2016

Volumen: 63

Número: 4

Páginas: 2087-2094

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TNS.2016.2551263 GOOGLE SCHOLAR

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