Statistical Anomalies of Bitflips in SRAMs to Discriminate SBUs from MCUs

  1. Clemente, J.A.
  2. Franco, F.J.
  3. Villa, F.
  4. Baylac, M.
  5. Rey, S.
  6. Mecha, H.
  7. Agapito, J.A.
  8. Puchner, H.
  9. Hubert, G.
  10. Velazco, R.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Ano de publicación: 2016

Volume: 63

Número: 4

Páxinas: 2087-2094

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TNS.2016.2551263 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus