A Methodology to Emulate Single Event Upsets in Flip-Flops Using FPGAs through Partial Reconfiguration and Instrumentation

  1. Serrano, F.
  2. Clemente, J.A.
  3. Mecha, H.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Datum der Publikation: 2015

Ausgabe: 62

Nummer: 4

Seiten: 1617-1624

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TNS.2015.2447391 GOOGLE SCHOLAR
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