UV and visible Raman scattering of ultraheavily Ti implanted Si layers for intermediate band formation

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Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242,  1361-6641

Año de publicación: 2011

Volumen: 26

Número: 11

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/26/11/115003 GOOGLE SCHOLAR
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