Degradation of Instrumentation Amplifiers Due to the Nonionizing Energy Loss Damage

  1. Franco, F.J.
  2. Lozano, J.
  3. Santos, J.P.
  4. Agapito, J.A.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Any de publicació: 2003

Volum: 50

Número: 6 II

Pàgines: 2433-2440

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/TNS.2003.820628 GOOGLE SCHOLAR