Degradation of Instrumentation Amplifiers Due to the Nonionizing Energy Loss Damage

  1. Franco, F.J.
  2. Lozano, J.
  3. Santos, J.P.
  4. Agapito, J.A.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Datum der Publikation: 2003

Ausgabe: 50

Nummer: 6 II

Seiten: 2433-2440

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/TNS.2003.820628 GOOGLE SCHOLAR
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