A nondestructive method for measuring thermal parameters of hermetically sealed electron devices
- Alieva, T.D.
- Akhundova, N.M.
- Abdinov, D.Sh.
ISSN: 0020-4412
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 43
Nummer: 1
Seiten: 143-144
Art: Artikel
ISSN: 0020-4412
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 43
Nummer: 1
Seiten: 143-144
Art: Artikel