A nondestructive method for measuring thermal parameters of hermetically sealed electron devices
- Alieva, T.D.
- Akhundova, N.M.
- Abdinov, D.Sh.
ISSN: 0020-4412
Argitalpen urtea: 2000
Alea: 43
Zenbakia: 1
Orrialdeak: 143-144
Mota: Artikulua
ISSN: 0020-4412
Argitalpen urtea: 2000
Alea: 43
Zenbakia: 1
Orrialdeak: 143-144
Mota: Artikulua