Advantages and disadvantages of PIXE/PIGE, XRF and EDX spectrometries applied to archaeometric characterisation of glasses

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Revista:
Materials Characterization

ISSN: 1044-5803

Año de publicación: 2010

Volumen: 61

Número: 2

Páginas: 257-267

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MATCHAR.2009.12.006 GOOGLE SCHOLAR

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