Characterization of charged defects in CdxHg1-xTe and CdTe crystals by electron beam induced current and scanning tunneling spectroscopy
- Panin, G.
- Díaz-Guerra, C.
- Piqueras, J.
ISSN: 0003-6951
Datum der Publikation: 1998
Ausgabe: 72
Nummer: 17
Seiten: 2129-2131
Art: Artikel