Electron beam induced current and scanning tunnelling spectroscopy correlative study of CdxHg1-xTe and CdTe crystals

  1. Panin, G.N.
  2. Díaz-Guerra, C.
  3. Piqueras, J.
Aldizkaria:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Argitalpen urtea: 1998

Alea: 13

Zenbakia: 6

Orrialdeak: 576-582

Mota: Artikulua

DOI: 10.1088/0268-1242/13/6/007 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus