Electron beam induced current and scanning tunnelling spectroscopy correlative study of CdxHg1-xTe and CdTe crystals

  1. Panin, G.N.
  2. Díaz-Guerra, C.
  3. Piqueras, J.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Ano de publicación: 1998

Volume: 13

Número: 6

Páxinas: 576-582

Tipo: Artigo

DOI: 10.1088/0268-1242/13/6/007 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus