Raman and rutherford backscattering characterization of Ti implanted Si above Mott limit
- Olea, J.
- Pastor, D.
- Mártil, I.
- González-Díaz, G.
- Ibáñez, J.
- Cuscó, R.
- Artús, L.
ISSN: 0272-9172
ISBN: 9781605111834
Any de publicació: 2010
Volum: 1210
Pàgines: 93-98
Tipus: Aportació congrés