High quality Ti-implanted Si layers above the Mott limit
- Olea, J.
- Toledano-Luque, M.
- Pastor, D.
- San-Andrés, E.
- Mártil, I.
- González-Díaz, G.
Revista:
Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 2010
Volum: 107
Número: 10
Tipus: Article