High quality Ti-implanted Si layers above the Mott limit
- Olea, J.
- Toledano-Luque, M.
- Pastor, D.
- San-Andrés, E.
- Mártil, I.
- González-Díaz, G.
Aldizkaria:
Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
Argitalpen urtea: 2010
Alea: 107
Zenbakia: 10
Mota: Artikulua