Electrical characterization of Si+ and Si+/P+ implanted N+P In0.53Ga0.47As junctions
- Blanco, M.N.
- Redondo, E.
- León, C.
- Santamaria, J.
- González-Diaz, G.
ISSN: 0957-4522
Año de publicación: 1999
Volumen: 10
Número: 5
Páginas: 425-428
Tipo: Artículo