Conductance transients study of slow traps in Al/SiNx:H/Si and Al/SiNx:H/InP metal-insulator-semiconductor structures

  1. Duenas, S.
  2. Pelaez, R.
  3. Castan, E.
  4. Barbolla, J.
  5. Martil, I.
  6. Gonzalez-Diaz, G.
Actes:
Materials Research Society Symposium - Proceedings

ISSN: 0272-9172

Any de publicació: 1998

Volum: 500

Pàgines: 87-92

Tipus: Aportació congrés