Electronic-structure origin of the anisotropic thermopower of nanolaminated Ti 3SiC 2 determined by polarized x-ray spectroscopy and Seebeck measurements

  1. Magnuson, M.
  2. Mattesini, M.
  3. Nong, N.V.
  4. Eklund, P.
  5. Hultman, L.
Revista:
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

ISSN: 1098-0121,  1550-235X

Año de publicación: 2012

Volumen: 85

Número: 19

Tipo: Artículo

DOI: 10.1103/PHYSREVB.85.195134 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus