Deuteron implantation into hexagonal silicon carbide: Defects and deuterium behaviour

  1. Shiryaev, A.
  2. Van Veen, A.
  3. Rivera, A.
  4. Van Huis, M.
  5. Bus, T.
  6. Arnoldbik, W.M.
  7. Tomozeiu, N.
  8. Habraken, F.H.P.M.
  9. Delamare, R.
  10. Ntsoenzok, E.
Revista:
EPJ Applied Physics

ISSN: 1286-0042

Any de publicació: 2003

Volum: 23

Número: 1

Pàgines: 11-18

Tipus: Article

DOI: 10.1051/EPJAP:2002116 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus