Hydrogen-related hole capture and positive charge build up in buried oxides

  1. Rivera, A.
  2. Van Veen, A.
  3. Schut, H.
  4. De Nijs, J.M.M.
  5. Balk, P.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 2002

Volumen: 46

Número: 11

Páginas: 1775-1785

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/S0038-1101(02)00150-8 GOOGLE SCHOLAR
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