Native and irradiation-induced defects in SiO2 structures studied by positron annihilation techniques
- Rivera, A.
- Montilla, I.
- Alba García, A.
- Galindo, R.E.
- Falub, C.V.
- Van Veen, A.
- Schut, H.
- De Nijs, J.M.M.
- Balk, P.
ISSN: 0255-5476
Any de publicació: 2001
Volum: 363-365
Pàgines: 64-66
Tipus: Aportació congrés