Study of ion-implantation damage in GaAs:Be and InP:Be using Raman scattering
- Rao, C.S.R.
- Sundaram, S.
- Schmidt, R.L.
- Comas, J.
ISSN: 0021-8979
Any de publicació: 1983
Volum: 54
Número: 4
Pàgines: 1808-1815
Tipus: Article
Revista:
Journal of Applied Physics