Atomic-scale studies of complex oxide interfaces using aberration-corrected Z-contrast imaging and EELS

  1. Klie, R.F.
  2. Schofield, M.A.
  3. Varela, M.
  4. Pennycook, S.J.
  5. Bleloch, A.
  6. Zhu, Y.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Any de publicació: 2006

Volum: 12

Número: SUPPL. 2

Pàgines: 112-113

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1017/S1431927606062052 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus