Atomic-scale studies of complex oxide interfaces using aberration-corrected Z-contrast imaging and EELS

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  2. Schofield, M.A.
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Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 12

Nummer: SUPPL. 2

Seiten: 112-113

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1017/S1431927606062052 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus