Aberration-corrected STEM - More than just higher resolution

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Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276,  1435-8115

Año de publicación: 2006

Volumen: 12

Número: SUPPL. 2

Páginas: 132-133

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1017/S1431927606069650 GOOGLE SCHOLAR
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