Sub-nanometer resolution of an organic semiconductor crystal surface using friction force microscopy in water

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Revista:
Journal of Physics Condensed Matter

ISSN: 1361-648X,  0953-8984

Año de publicación: 2016

Volumen: 28

Número: 13

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0953-8984/28/13/134002 GOOGLE SCHOLAR
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