Comparison between optical techniques and confocal microscopy for defect detection on thin wires

  1. Siegmann, P.
  2. Sanchez-Brea, L.M.
  3. Martinez-Anton, J.C.
  4. Bernabeu, E.
Revista:
Applied Surface Science

ISSN: 0169-4332

Año de publicación: 2004

Volumen: 238

Número: 1-4 SPEC. ISS.

Páginas: 375-379

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/J.APSUSC.2004.05.240 GOOGLE SCHOLAR
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