Determination of optical parameters in general film-substrate systems: A reformulation based on the concepts of envelope extremes and local magnitudes

  1. Martínez-Antón, J.C.
Revista:
Applied Optics

ISSN: 2155-3165,  1559-128X

Any de publicació: 2000

Volum: 39

Número: 25

Pàgines: 4557-4568

Tipus: Article

DOI: 10.1364/AO.39.004557 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus