Atomic resolution STEM-EELS studies of defects and local structural distortions in oxide interfaces

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Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Año de publicación: 2017

Volumen: 23

Páginas: 372-373

Tipo: Nota

DOI: 10.1017/S1431927617002549 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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