Water adsorption in porous TiO2-SiO2 sol-gel films analyzed by spectroscopic ellipsometry

  1. Alvarez-Herrero, A.
  2. Ramos, G.
  3. Del Monte, F.
  4. Bernabeu, E.
  5. Levy, D.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Año de publicación: 2004

Volumen: 455-456

Páginas: 356-360

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/J.TSF.2004.01.023 GOOGLE SCHOLAR
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