Robust inference for one-shot device testing data under exponential lifetime model with multiple stresses
- Balakrishnan, N.
- Castilla, E.
- Martín, N.
- Pardo, L.
ISSN: 1099-1638, 0748-8017
Any de publicació: 2020
Volum: 36
Número: 6
Pàgines: 1916-1930
Tipus: Article