Robust inference for one-shot device testing data under exponential lifetime model with multiple stresses
- Balakrishnan, N.
- Castilla, E.
- Martín, N.
- Pardo, L.
ISSN: 1099-1638, 0748-8017
Ano de publicación: 2020
Volume: 36
Número: 6
Páxinas: 1916-1930
Tipo: Artigo