Study of the microstructure of amorphous silica nanostructures using high-resolution electron microscopy, electron energy loss spectroscopy, X-ray powder diffraction, and electron pair distribution function

  1. Khouchaf, L.
  2. Boulahya, K.
  3. Das, P.P.
  4. Nicolopoulos, S.
  5. Kis, V.K.
  6. Lábár, J.L.
Revista:
Materials

ISSN: 1996-1944

Any de publicació: 2020

Volum: 13

Número: 19

Pàgines: 1-14

Tipus: Article

DOI: 10.3390/MA13194393 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus