Study of the microstructure of amorphous silica nanostructures using high-resolution electron microscopy, electron energy loss spectroscopy, X-ray powder diffraction, and electron pair distribution function

  1. Khouchaf, L.
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Revista:
Materials

ISSN: 1996-1944

Año de publicación: 2020

Volumen: 13

Número: 19

Páginas: 1-14

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/MA13194393 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

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