Study of the microstructure of amorphous silica nanostructures using high-resolution electron microscopy, electron energy loss spectroscopy, X-ray powder diffraction, and electron pair distribution function

  1. Khouchaf, L.
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Zeitschrift:
Materials

ISSN: 1996-1944

Datum der Publikation: 2020

Ausgabe: 13

Nummer: 19

Seiten: 1-14

Art: Artikel

DOI: 10.3390/MA13194393 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor

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