Defect inspection by an active 3D multiresolution technique

  1. Vargas, J.
  2. Quiroga, J.A.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

ISBN: 9780819473981

Año de publicación: 2008

Volumen: 7155

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.814516 GOOGLE SCHOLAR
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