Three-dimensional measurement of microchips using structured light techniques

  1. Vargas, J.
  2. Koninckx, T.
  3. Quiroga, J.A.
  4. Gool, L.V.
Revista:
Optical Engineering

ISSN: 0091-3286,  1560-2303

Año de publicación: 2008

Volumen: 47

Número: 5

Tipo: Artículo

DOI: 10.1117/1.2919726 GOOGLE SCHOLAR

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