One-layer vs. Two-layer som in the context of outlier identification: A simulation study

  1. Valverde Castilla, G.A.
  2. Mira McWilliams, J.M.
  3. González-Pérez, B.
Revista:
Applied Sciences (Switzerland)

ISSN: 2076-3417

Año de publicación: 2021

Volumen: 11

Número: 14

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/APP11146241 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

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