Impact of the bitcell topology on the multiple-cell upsets observed in VLSI nanoscale SRAMs

  1. Clemente, J.A.
  2. Hubert, G.
  3. Rezaei, M.
  4. Franco, F.J.
  5. Mecha, H.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 1558-1578,  0018-9499

Año de publicación: 2021

Volumen: 68

Número: 9

Páginas: 2383-2391

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TNS.2021.3099202 GOOGLE SCHOLAR
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