Fault-tolerant protection of near-term trapped-ion topological qubits under realistic noise sources

  1. Bermudez, A.
  2. Xu, X.
  3. Gutiérrez, M.
  4. Benjamin, S.C.
  5. Müller, M.
Revista:
Physical Review A

ISSN: 2469-9934,  2469-9926

Año de publicación: 2019

Volumen: 100

Número: 6

Tipo: Artículo

DOI: 10.1103/PHYSREVA.100.062307 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus