MCU Tolerance in SRAMs Through Low-Redundancy Triple Adjacent Error Correction

  1. Saiz-Adalid, L.-J.
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Revista:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Año de publicación: 2015

Volumen: 23

Número: 10

Páginas: 2332-2336

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TVLSI.2014.2357476 GOOGLE SCHOLAR
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