Topological sensitivity for solving inverse multiple scattering problems in three-dimensional electromagnetism. Part I: One step method

  1. Louëry, F.L.
  2. Rapún, M.-L.
Revista:
SIAM Journal on Imaging Sciences

ISSN: 1936-4954

Año de publicación: 2017

Volumen: 10

Número: 3

Páginas: 1291-1321

Tipo: Artículo

DOI: 10.1137/17M1113850 GOOGLE SCHOLAR