Defect Detection from Multi-frequency Limited Data via Topological Sensitivity
- Funes, J.F.
- Perales, J.M.
- Rapún, M.-L.
- Vega, J.M.
ISSN: 1573-7683, 0924-9907
Datum der Publikation: 2016
Ausgabe: 55
Nummer: 1
Seiten: 19-35
Art: Artikel
ISSN: 1573-7683, 0924-9907
Datum der Publikation: 2016
Ausgabe: 55
Nummer: 1
Seiten: 19-35
Art: Artikel